Силикат ва қийин эридиган нометалл материаллани физик кимёвий тахлил қилиш асослари
Ushbu kitobda silikat va qiyin eriydigan metall bo'lmagan materiallarni fizik-kimyoviy tahlil qilish usullari, apparaturalar va ularning tuzilishi, xom ashyoning kimyoviy va mineralogik tarkibi, termik effektlarni aniqlovchi jixozlar, mikroskop, rentgen, elektron mikroskop, IK-spektrometrlar kabi jixozlar tarixi va rivoji, shuningdek O'zbekistondagi ijtimoiy-iqtisodiy islohotlar natijalari yoritilgan.
Asosiy mavzular
- Amaliy mashg'ulotlar: Amaliy mashg'ulotlar mikroskopik tahlil asoslari, mineral optik xususiyatlari va minerallarning shaklini aniqlashga qaratilgan.
- Kristallooptika usuli: Kristallooptika usuli tabiatda uchraydigan va sun'iy ravishda olingan kimyoviy birikmalarning optik xususiyatlarini ularning kristall shakllari, tarkibi va simmetriyasi bilan bog'lashni o'rganadi.
- Nurni sindirish ko'rsatkichi: Nurning sinish ko'rsatkichi Snell qonuni bilan belgilanadi va yorug'likning bir muhitdan boshqasiga o'tishida nurlanish burchagini aniqlaydi.
- Simmetriya haqida tushuncha: Simmetriya kristall tuzilishining muhim xususiyati bo'lib, uning elementlari (o'qlar, tekisliklar, markazlar) orqali ifodalanadi.
- Kristallarning ikkilamchi sinishi: Kristallarning ikkilamchi sinishi hodisasi kristall singoniyasi turiga bog'liq bo'ladi.
- Cho'ziq kristallarning so'nish tavsifi: Cho'ziq kristallarning so'nish tavsifi yoritilgan analizatorlar yordamida har 90 darajada qaytariladi.
- Mин-8 markali поляризацион микроскоп: Mikroskop tuzilishi va undan foydalanish, tuzilishi kondensor linza va burish prizmalari, predment stolchasi(7) кронштейнга ўрнатилган бўлиб катта тишли силжитиш механизми(9) ёрдамида юқорига ва пастга ҳаракатланиши tasvirlangan
- Ренгенографик тахлил усули: Рентген нурлари модданинг кристалл панжарасига тушганда дифракцияланишига асосланган. Кристалл холдаги моддалар орқали нур ўтганда дифракцион манзара хосил бўлишига сабаб, кристалл панжрадаги атомлар орқали ўтган нурнинг ўзаро параллел текисликлардан қайтишидир.
- Термик тахлил усулида намунани текшириш: Термография усулларининг имконияти катта. Энг аввало улар ёрдамида текширилаётган моддада содир бўладиган эндо- ва экзотермик эффектларни қайси температура нуқтасида бошланиши ва қайси температу-рада тугаши ҳақида ўта аниқ хулосаga ega bo`lamiz.