MDY-strukturalarning xossalarini yuqori chastotali usul yordamida tadqiq qilish
Mazkur bitiruv malakaviy ishida yarimo'tkazgichli materiallar va ulardan tayyorlangan diodlarning xossalari, jumladan, chuqur sathli nuqsonlarni aniqlash uchun sig'im usullaridan foydalanish o'rganilgan. Ishda yarimo'tkazgichli materiallar va ularga asoslangan qurilmalarning tadqiqot usullari, jumladan, volt-farad xarakteristikasi va chuqur sathli nostatsionar sig'im spektroskopiyasi (CHSNSS) usullari batafsil ko'rib chiqilgan. Tadqiqotlar natijasida titan bilan legirlangan kremniy diodlarining chastotaviy va haroratga bog'liq xossalari o'rganilgan. Chunonchi, CHSNSS usuli yordamida namunalarning tipini aniqlash mumkinligi ko'rsatilgan.